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  多通道集成光电子源测系统

  厂商：美国Nicslab公司

  简介：美国Nicslab公司多通道集成光电子源测系统SMU产品是专为光子芯片、光电子器件打造的集成化测试设备，涵盖 XPOW、XDAC-U、XDAC-MUB、XDAC-MUB-DIFF 四大核心型号，集 “可编程电源输出” 与 “高精度参数测量” 于一体，替代传统 “电源 + 万用表” 组合，大幅简化测试链路。
  该系列提供 8/40/120 通道配置（差分款为 8/40 通道），适配从实验室研发到产线批量测试的全场景需求。核心配置分基础与高性能两类：XPOW 搭载 8 位 AVR 微控制器，主打高性价比；XDAC 系列则采用四核 Cortex 64 位 ARM v8 处理器，兼具高速运算与多通道同步控制能力，16 位分辨率保障微小信号的精准调节。
  输出类型覆盖单极性、双极性与差分：单极性款提供 0-34V/0-300mA 基础输出，双极性与差分款支持 ±16V/±500mA 双向供电，均可选高级细分量程，适配敏感器件与高功率驱动场景。测量速度按需匹配，XDAC 系列 8 通道仅需 5.492ms，兼顾动态扫描与长期稳定性测试。
  接口方面，XPOW 仅配 USB，XDAC 系列支持千兆以太网 + USB，接地方式分共享与独立（差分款），抗干扰能力按需选择。该系列广泛应用于光子芯片特性测试、光调制器偏置控制、5G 射频滤波器研发等场景，是电子 - 光子集成领域的高效测试工具。