高清元器件分析仪HDCA
高清元器件分析仪HDCA
厂家
西班牙Zepren公司
简介
Zepren HDCA 高清元器件分析仪,专为光子集成芯片、无源光器件研发量产打造,是光通信、硅光芯片、光纤传感领域的高端精密检测利器。
设备搭载飞米级超高分辨技术,最小点分辨率达 2.4 fm,波长精度 ±0.5 pm、重复性 ±0.15 pm,单次扫描动态范围超 85 dB,精准捕捉微弱光谱细节,解决传统仪器精度偏低、数据偏差大难题。全覆盖 T/O/S/C/L 波段,适配各类光器件与光子芯片,高速全自动测量,显著提升研发与产线检测效率。HDCA 具备全参数一体化同步检测能力,可完成插回损、偏振相关损耗、波长漂移、群时延等关键参数测试,支持 TE/TM 偏振光谱独立表征,满足高端滤波、谐振器件严苛测试要求。
可选配 OFDR 光频域反射功能,微米级分辨率、无测量盲区,可检测芯片内部损耗、识别光纤缺陷故障。支持多通道扩展、兼容外接光源,可灵活搭建定制化测试系统。凭借超高精度、功能全面、性能稳定,广泛用于高校科研、企业研发与量产质检,为硅光集成、数据中心及机载光网络提供高精度测试解决方案。

  • 产品信息
  • 产品特点: · 亚皮米级分辨率,最低 2.4 fm
    · >85 dB 高动态范围
    · ±0.15 pm 波长重复性、
    · ±0.5 pm 波长精度
    · 覆盖 T/O/S/C/L 全波段
    · 支持 PM/PDL 与 TE/TM 分析
    · 全面测量能力:插损、回损、偏振相关损耗、偏振波长相关漂移、群时延、光时域响应
    · 兼容外部光源
    系统应用: · 光纤器件的高分辨率表征
    · 硅光子集成电路(PIC)表征
    · 同时测量光谱响应与时延响应
    · 光纤网络链路故障排查







    技术指标

    参数

    光学分辨率

    0.3 MHz (0.0024 pm) (Min.) / 1 MHz(Typ.)

    通道数量

    标配1通道,可选至 4 通道;可定制扩展

    校准输入功率范围

    +10 ~ -90 dBm

    输出功率

    0 dBm (Min.)

    偏振测量

    双正交偏振;可选 PDL & PWDS

    扫描速度

    10, 20, 40 或100 nm/s

    波长基准

    线性化 + 绝对基准

    波长精度

    ±0.5 pm (Typ.)

    动态范围

    IL

    >85 dB @ 100 nm/s

    RL

    > 55 dB

    功率精度

    IL

    ±0.1 dB(Typ.)

    RL

    ±0.5 dB(Typ.)

    功率分辨率

    0.001 dB

    PDL 精度

    ±0.04 dB

    PDL 重复性

    ±0.02 dB

    OFDR模块选项

    采样分辨率

    6 µm S,C&L bands / 7 µm O band

    反射模式量程

    14 / 36 / 73 / 147 m (*)

    透射模式量程

    28 / 72 / 146 / 294 m (*)

    光纤长度重复性

    ±50 µm

    灵敏度

    -120 dB

                                                                                     (*) ng=1.48@1550nm


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